English

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s beskonačnom korekcijom za snimanje kroz silicij i praćenje procesa vlaknastim laserom

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s korekcijom za beskonačnost za snimanje kroz silicij i praćenje procesa vlaknastim laserom. Istaknuta slika.
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s beskonačnom korekcijom za snimanje kroz silicij i praćenje procesa vlaknastim laserom
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s beskonačnom korekcijom za snimanje kroz silicij i praćenje procesa vlaknastim laserom

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s beskonačnom korekcijom za snimanje kroz silicij i praćenje procesa vlaknastim laserom

NIR Plan Apo 50X/0.67 je vrhunski plan-apokromatski mikroskopski objektiv s beskonačnom korekcijom, posebno optimiziran za primjene u bliskom infracrvenom (NIR) području. S numeričkom aperturom (NA) od 0,67 i radnom udaljenošću (WD) od 10 mm, pruža iznimnu rezoluciju (0,5 µm) i izvrstan NIR prijenos u vidljivom rasponu od 380–700 nm, kao i kritičnoj valnoj duljini od 1064 nm - što ga čini idealnim za inspekciju stražnje strane silicijskih pločica, mjeriteljstvo kroz silicij via (TSV) i praćenje obrade vlaknastim laserom u stvarnom vremenu.

Ključne specifikacije:

  • Uvećanje: 50X
  • Numerička apertura (NA): 0,67
  • Radna udaljenost (WD): 10 mm
  • Žarišna duljina: 4 mm
  • Rezolucija: 0,5 µm
  • Dubinska oštrina (±DF): 0,75 µm
  • Maksimalno vidno polje: 0,5 mm
  • Težina: 430 g
  • Optički dizajn: Ispravljen za beskonačnost, plan apokromat (APO)
  • Radna valna duljina: 380–700 nm i 1064 nm
  • Medij za uranjanje: Zrak

Detalji proizvoda

Oznake proizvoda

Tipične primjene:
Inspekcija poluvodiča– Inspekcija stražnje strane pločice, mjerenje TSV-a (kroz silicij), pregled nedostataka nakon laserskog rezanja
Analiza kvara– Nerazorno snimanje kroz silicijske podloge za pregled zakopanih struktura
Laserska obrada– Promatranje ablacije, bušenja ili zavarivanja vlaknastim laserom od 1064 nm u stvarnom vremenu u znanosti o materijalima i proizvodnji
Metalurgija i znanost o materijalima– Visokorezolucijska inspekcija zona utjecaja laserske topline, prerađenih slojeva i mikrostruktura
NIR fluorescentna mikroskopija– Za biološke ili materijalne uzorke koji zahtijevaju pobuđivanje u bliskom infracrvenom području
Objektiv mikroskopa


  • Prethodno:
  • Sljedeći:
    • Napišite svoju poruku ovdje i pošaljite nam je

    KATEGORIJE PROIZVODA

    Wavelength se već 20 godina fokusira na pružanje visokopreciznih optičkih proizvoda

    Pritisnite enter za pretraživanje ili ESC za zatvaranje